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Vanta Element系列手持式XRF分析仪

Vanta Element系列手持式XRF分析仪

产品概览

Vanta Element型号 Vanta Element-S型号
用途 以经济的成本完成合金的辨别 以经济的成本完成轻元素的探测
擅长 基本的分析 分析镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)
探测器 PIN 硅漂移探测器(SDD)
窗口 厚聚酰亚胺窗口 聚丙烯纺织纤维(Prolene)窗口,带有聚酰亚胺网格背衬
激励源 2瓦特X射线管,35 kV钨(W)阳极靶材 4瓦特X射线管,50 kV银(Ag)阳极靶材

 

产品特点

一、经济实用

Vanta Element手持式XRF系列分析仪可以对元素进行分析,从而可使用户快速完成合号的辨别和分拣。

 

二、合金辨别

Vanta Element-S分析仪可以完成合金辨别,并探测到包含镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)在内的轻元素.

 

这两种型号的分析仪都可以快速辨别合号,并在屏幕上清楚地显示牌号对比信息,从而可加速金属检测,有效完成废料分拣、金属制造和贵金属分析等应用.

 

类似于智能手机的用户界面,易于学习,使用方便,有助于简化用户的培训过程和分拣过程.

 

三、连通性

Vanta Element系列分析仪具有连通性能,有助于简化废料金属的回收和质量控制过程.

 

四、重复性的结果

Vanta分析仪的电子部件

Axon技术的稳定性和计数率

 

五、方便的数据管理

具有无线连通性能(可选配),可方便地将数据传输到网络上的文件夹中

使用奥林巴斯的科学云系统可以实现云数据存储,并可实时以远程方式查看数据

直接将数据导出到USB驱动盘中。

用于存储结果的1GB工业用microSD卡

 

六、坚固耐用

可用于条件恶劣的环境中,且其拥有成本较低。

符合IP54评级标准,具有防尘和防潮的特性。

通过坠落测试(MIL-STD-810G),可避免分析仪在坠落时受到损坏,从而减少了高成本维修。

经过评定,在-10 °C到45 °C的温度范围内,可以持续进行检测。

防磨不锈钢面板。

无需使用工具即可方便地更换窗口。

 

技术参数

 

Vanta Element型号 Vanta Element-S型号

外型尺寸(宽 × 高 × 厚)

8.3 × 28.9 × 24.2cm

重量

带电池时1.54公斤;不带电池时1.32公斤。

激励源

2瓦特X射线管,35kV钨阳极靶材 4瓦特X射线管,50kV银(Ag)阳极靶材

主光束滤波

固定的铝制滤波片

探测器

Si-PIN探测器 硅漂移探测器(SDD)

电源

14.4V可拆卸锂离子电池,或者18V电源变压器,100~240VAC,50~60Hz

显示 800 × 480(WVGA)电容式液晶显示触摸屏,可使用手指进行控制
操作环境

温度:−10 °C ~ 45 °C,100%占空比

湿度:10%~90%相对湿度,非冷凝

坠落测试

通过美军标准810-G中的从4英尺(1.22米)高处坠落的测试

IP评级和探测器快门闸保护 IP54:防尘,而且可经受来自各个方向的水溅。

操作系统

Linux

数据存储

microSD插槽,并提供1GB工业用可插拔SD卡

USB

2个USB 2.0 A型主端口,用于诸如无线局域网、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。

一个USB 2.0袖珍B型端口,用于连接计算机。

无线局域网

通过可选配的USB适配器,支持802.11 b/g/n(2.4 GHz)无线局域网功能

蓝牙

通过可选配的USB适配器,支持蓝牙功能

质保

1年质保

可选配件

野外台座、土壤支架和机套

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